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電子產品面世要經歷哪些測試

作者：高低溫試驗箱???時間：19-03-21 09:30

隨著社會(hui)生(sheng)產(chan)的(de)發展，電(dian)子(zi)產(chan)品已經(jing)成了現代生(sheng)活不可分(fen)割的(de)一部分(fen)，但聰明(ming)的(de)你，知道一款電(dian)子(zi)產(chan)品從(cong)生(sheng)產(chan)到(dao)面試(shi)，要(yao)經(jing)歷多(duo)少道測試(shi)程序嗎？

今天小編就(jiu)給(gei)大家(jia)介紹(shao)下，電(dian)子產品從研(yan)發(fa)到面(mian)世，最后到用戶(hu)手中，需要做哪(na)些(xie)試驗，而我們的環境試驗箱(xiang)，又扮(ban)演了哪(na)些(xie)角(jiao)色？

電子產(chan)品面世(shi)要經歷的測試(shi)(shi)(shi)概覽：溫度測試(shi)(shi)(shi)、老化測試(shi)(shi)(shi)、耐(nai)腐蝕測試(shi)(shi)(shi)、綜(zong)合類測試(shi)(shi)(shi)

一、溫度測試(shi)

1.高溫試驗，將電子樣品放入高低溫試驗箱(xiang)中，將溫度設置為五十度，模擬用戶正常的使用環境，運行96小時，檢查樣品是否還能正常工作

2.低溫(wen)試驗，用專(zhuan)業的(de)高低溫(wen)試驗箱，將溫(wen)度(du)設(she)定在零下25度(du)，模擬用戶正常的(de)使用環境，運行96小時，檢(jian)查能否(fou)正常工作(zuo)；

二、老化測(ce)試

1.將電(dian)子樣品在常(chang)溫下，不間(jian)斷運行(xing)一個月，檢查(cha)樣品是否能(neng)正常(chang)運行(xing)，如(ru)果中間(jian)出現(xian)故障，則試驗失(shi)敗，需要重新(xin)研發分析(xi)

三(san)、耐腐蝕測(ce)試

1.將電子樣(yang)品放入鹽霧試驗箱中(zhong)，正常(chang)運(yun)(yun)行運(yun)(yun)行96小時，檢查樣(yang)品是否(fou)出現故(gu)障(zhang)

四、綜合類測試

1.將電子樣品先后分批次放進低溫(wen)低壓(ya)、高(gao)溫(wen)高(gao)壓(ya)、以及鹽霧淋雨環境，正常運行96小時，檢查樣品是否出現故(gu)障(zhang)。

綜上，由于電(dian)子產品市場(chang)分布(bu)極廣，不(bu)同地區氣候環(huan)境(jing)不(bu)一樣(yang)(yang)，所以實驗都一定要復雜(za)嚴謹，只有這樣(yang)(yang)才能保證銷(xiao)路。

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